[发明专利]校正乱真像素方法、计算机可读存储介质和图像处理装置有效

专利信息
申请号: 201680037758.X 申请日: 2016-06-10
公开(公告)号: CN107810630B 公开(公告)日: 2020-07-24
发明(设计)人: 阿莫里·萨拉加吉亚;阿兰·迪朗 申请(专利权)人: 优利斯公司
主分类号: H04N5/33 分类号: H04N5/33;H04N5/365;H04N5/367
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 王小衡;任庆威
地址: 法国沃雷*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于校正对红外射线敏感的图像采集装置的像素阵列中的坏像素的方法。所述方法包括:接收第一输入图像(RAW)并且通过应用增益值和偏移值来校正所述第一输入图像,在校正的第一输入图像中检测出至少一个坏像素并且将所述至少一个坏像素添加至坏像素列表(LSPUR),接收第二输入图像(RAW)并且通过应用所述增益值和偏移值来校正所述第二输入图像,并且基于校正的第一输入图像和校正的第二输入图像而针对所述至少一个坏像素计算增益校正值和偏移校正值(soff,sGain)。
搜索关键词: 校正 乱真 像素 方法 计算机 可读 存储 介质 图像 处理 装置
【主权项】:
一种校正对红外辐射敏感的成像装置的像素阵列(102)的乱真像素的方法,所述方法包括:通过所述成像装置的处理装置(202)接收由所述像素阵列(102)采集到的第一输入图像(RAW),并且通过将增益值和偏移值应用至所述第一输入图像中的像素的像素值来校正所述第一输入图像;在校正的第一输入图像中检测出至少一个乱真像素,并且将所述至少一个乱真像素添加至乱真像素的列表(LSPUR);通过所述处理装置(202)接收由所述像素阵列(102)采集到的第二输入图像(RAW),并且通过将所述增益值和偏移值应用至所述第二输入图像中的像素的像素值来校正所述第二输入图像;并且基于校正的第一输入图像和校正的第二输入图像,针对所述至少一个乱真像素,计算增益校正值和偏移校正值(sOff,sGain)。
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