[发明专利]技术溢出效应分析方法

摘要

本发明提供一种技术溢出效应分析方法。根据本发明的实施例的技术溢出效应分析方法包括从由分类为预先设定的技术分类的多个专利组成的专利数据中，将包括两个以上的技术分类的专利作为对象，提取共同技术分类信息的步骤；从上述共同技术分类信息中计算上述技术分类间关联度的步骤；使用上述技术分类间关联度导出关于上述技术分类的技术溢出效应的步骤。

主权项

一种技术溢出效应分析方法，其通过包括中央处理装置、储存装置及储存器的常规的个人计算机中实现处理，其特征在于，包括：步骤a)：从由分类为预先设定的技术分类的多个专利组成的专利数据中，将包括两个以上的技术分类的专利作为对象来提取共同技术分类信息；步骤b)：计算关于所获得的技术共同分类信息的各个技术分类的直接溢出度；步骤c)：利用所述直接溢出度来计算综合溢出度；步骤d)：将最小支持度设定为0.1％及0.05％，将最小可靠度设定为0.1％及0.05％，并以最小支持度0.1％及最小可靠度0.1％作为基准来设定第1专利组，以最小支持度0.05％及最小可靠度0.1％作为基准来设定第2专利组，以最小支持度0.1％及最小可靠度0.05％作为基准来设定第3专利组，以最小支持度0.05％及最小可靠度0.05％作为基准来设定第4专利组，并且给包括在各个专利组的专利数量进行分级；步骤e)：对于各个所述第1至第4专利组，适用分析影响度的第1模型、分析影响度及被影响度的第2模型、求得影响度与感应度系数的乘积的第3模型、影响度与感应度系数的乘积加上被影响度与影响力系数的乘积的第4模型、对上述第2模型的影响度及被影响度分别进行标准化并求和的第5模型、已标准化的影响度与感应度系数的乘积加上已标准化的被影响度与影响力系数的乘积的第6模型，来分析所述最小支持度及最小可靠度对溢出力所起的影响。