[发明专利]用于减轻封装集成电路中的寄生耦合的方法和装置在审

专利信息
申请号: 201680047952.6 申请日: 2016-08-25
公开(公告)号: CN108352329A 公开(公告)日: 2018-07-31
发明(设计)人: V·贾恩;N·金伊曼;A·伊斯玛利;G·梅农;N·贾恩 申请(专利权)人: 安诺基维吾公司
主分类号: H01L21/48 分类号: H01L21/48;H01L23/552;H01L23/495;H01L23/66
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 吕俊刚;李艳芳
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种封装IC,其具有封装件,该封装件具有芯片焊盘、信号引线、以及接地引线。所述封装IC还具有固定至所述封装件的芯片,该芯片具有接地焊垫和信号焊垫。所述信号焊垫电连接至所述信号引线,并且所述接地焊垫电连接至所述芯片焊盘和所述接地引线。
搜索关键词: 封装件 接地焊垫 接地引线 芯片焊盘 信号引线 电连接 焊垫 封装 芯片 封装集成电路 方法和装置 寄生耦合
【主权项】:
1.一种封装IC,所述封装IC包括:封装件,所述封装件具有芯片焊盘、信号引线、以及接地引线;以及芯片,所述芯片具有接地焊垫和信号焊垫,所述芯片被固定至所述封装件;所述信号焊垫电连接至所述信号引线,所述接地焊垫电连接至所述芯片焊盘和所述接地引线。
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