[发明专利]用于集成电路中的最优修整校准的系统和方法有效
| 申请号： | 201680063094.4 | 申请日： | 2016-12-19 |
| 公开（公告）号： | CN108351825B | 公开（公告）日： | 2022-02-08 |
| 发明（设计）人： | 潘卡伊·邦加莱;帕塔·高希;鲁宾·阿吉特·佩尔科治 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在所描述实例中，一种测试电路(100)包含彼此耦合的待校准电路(102)、误差产生电路(110)与单工电路(112)。所述待校准电路(102)经配置以将第一多个修整码(122到126)实施为用于所述待校准电路的对应多个组件的校准参数，并产生实际输出(106)。所述误差产生电路(110)经配置以基于所述实际输出(106)与所述待校准电路(102)的预期输出(108)之间的差而产生误差信号。所述单工电路(112)经配置以从所述误差产生电路(110)接收所述误差信号、基于所述误差信号而使用所述单工算法来产生第二多个修整码(122到126)、并将所述所述第二多个修整码(122到126)传输到所述待校准电路(102)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 集成电路 中的 最优 修整 校准 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种测试电路，其包括：待校准电路，其经配置以将第一多个修整码实施为用于所述待校准电路的对应多个组件的校准参数，并产生第一实际输出；误差产生电路，其经配置以基于所述第一实际输出与所述待校准电路的预期输出之间的差而产生第一误差信号；以及单工电路，其经配置以从所述误差产生电路接收所述第一误差信号、基于所述第一误差信号而使用单工算法来产生第二多个修整码、并将所述第二多个修整码传输到所述待校准电路。
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