[发明专利]检测和校正破坏性读取的非易失性存储器中的错误的方法和设备有效
| 申请号： | 201680066019.3 | 申请日： | 2016-11-21 |
| 公开（公告）号： | CN108292520B | 公开（公告）日： | 2022-05-10 |
| 发明（设计）人： | 朱玉明;马尼什·戈埃尔;张赛 | 申请（专利权）人： | 德州仪器公司 |
| 主分类号： | G11C29/42 | 分类号： | G11C29/42 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 林斯凯 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 在本发明所描述的检测和校正破坏性读取的非易失性存储器(104)中的错误的方法和设备(102)的实例中，所述方法及设备(102)响应于稳定化电源而确定存储在非易失性存储器(104)中的状态标记。在所述状态标记不正常的实例中，所述方法和设备(102)对编码在所述破坏性读取的非易失性存储器(104)中的错误校正码进行解码。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 校正 破坏性 读取 非易失性存储器 中的 错误 方法 设备 | ||
【主权项】：
暂无信息
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