[发明专利]相移量测定装置有效

专利信息
申请号: 201680068726.6 申请日: 2016-11-22
公开(公告)号: CN108603833B 公开(公告)日: 2021-06-01
发明(设计)人: 米泽良 申请(专利权)人: 株式会社V技术
主分类号: G01N21/45 分类号: G01N21/45;G01J9/02;G01M11/00;G01N21/27;G03F1/84
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;杨青
地址: 日本神*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供一种测定相移掩模(15)的相移量的装置,其中,在从光源(1)至拍摄双重干涉图像的摄像装置(2)的单一光路上具备:衍射光栅(7),其衍射直线偏振光而生成多个衍射光;Nomarski棱镜(11),其生成相移掩模(15)的图案的横向偏移双重图像,并且使通过了相移掩模(15)的图案部(18)及移相器部(19)的衍射光干涉;移动单元(21),其使Nomarski棱镜(11)沿双重图像的生成方向滑动移动。
搜索关键词: 相移 测定 装置
【主权项】:
1.一种相移量测定装置,测定相移掩模的相移量,其特征在于,在从光源至拍摄双重干涉图像的摄像装置的单一光路上,从上游侧起具备:衍射光栅,其衍射直线偏振光而生成多个衍射光;双楔棱镜,其生成所述相移掩模的图案的横向偏移双重图像,并且,使通过了所述相移掩模的图案部及移相器部的所述衍射光干涉;移动单元,其使所述双楔棱镜沿所述双重图像的生成方向滑动移动。
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