[发明专利]由量测数据的统计分层重建有效

专利信息
申请号: 201680071040.2 申请日: 2016-11-15
公开(公告)号: CN108369381B 公开(公告)日: 2021-09-21
发明(设计)人: S·I·马萨瓦特;R·德克斯;H·A·J·克瑞姆 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 胡良均
地址: 荷兰维*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种方法,所述方法包括:获得器件制造过程或该器件制造过程的产品的测量结果;通过分别针对于所述测量结果拟合分布来获得所述分布的一个或更多个参数的一个或更多个值的多个组;使用计算机通过针对于所述参数的值的多个组拟合超分布获得所述超分布的一个或更多个超参数的一个或更多个值的组。
搜索关键词: 数据 统计 分层 重建
【主权项】:
1.一种方法,包括:获得器件制造过程或所述器件制造过程的产品的测量结果;通过分别针对于所述测量结果拟合分布来获得所述分布的一个或更多个参数的一个或更多个值的多个组;使用计算机,通过针对于所述参数的值的多个组拟合超分布,获得所述超分布的一个或更多个超参数的一个或更多个值的组。
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