[发明专利]老化传感器及假冒集成电路检测在审
| 申请号： | 201680077951.6 | 申请日： | 2016-10-28 |
| 公开（公告）号： | CN108474812A | 公开（公告）日： | 2018-08-31 |
| 发明（设计）人： | 谢尔顿·向东·谭;何凯;黄欣 | 申请（专利权）人： | 加利福尼亚大学董事会 |
| 主分类号： | G01R27/00 | 分类号： | G01R27/00;G01R27/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 纪雯 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 示出了一种片上老化传感器以及用于检测假冒集成电路的相关联的方法。在一个实例中，所述片上老化传感器被集成在芯片内。在一个实例中，所述片上传感器包含片上老化传感器和反熔丝存储器块两者，所述反熔丝存储器块包含对所述芯片唯一的静态信息。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器 老化 反熔丝存储器 芯片 集成电路检测 片上传感器 假冒 静态信息 集成电路 关联 检测 | ||
【主权项】：
1.一种芯片，包括：芯片老化传感器；以及反熔丝存储器块，其包含对所述芯片唯一的静态信息。
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