[发明专利]元件判定装置及元件判定方法有效
申请号: | 201680081720.2 | 申请日: | 2016-02-18 |
公开(公告)号: | CN108702866B | 公开(公告)日: | 2020-10-16 |
发明(设计)人: | 石川信幸;田中克典 | 申请(专利权)人: | 株式会社富士 |
主分类号: | H05K13/04 | 分类号: | H05K13/04;H05K13/08 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 穆德骏;安翔 |
地址: | 日本爱知*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明目的在于提供一种能够对应于电子元件的形态来提高电子判定元件是否合格的精度的元件判定装置及元件判定方法。作为元件判定装置判定是否适合的对象的电子元件具有基准部,该基准部由与多个电极部不同的构件形成且在将电子元件载置于电路基板上时与该电路基板的上表面接触。元件判定装置具备:测定装置,对在基准部上设定的多个基准点的位置及在多个电极部分别设定的测定点的位置进行测定;平面计算部,基于多个基准点的位置来计算表示在电子元件被载置于电路基板上的情况下电路基板的上表面相对于元件主体的位置的基准平面;及是否适合判定部,基于基准平面与多个测定点的距离来判定电子元件是否适合。 | ||
搜索关键词: | 元件 判定 装置 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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