[发明专利]LCD驱动芯片的测试系统及方法

摘要

一种LCD驱动芯片的测试系统及方法，所述测试系统包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，并分别与所述每帧波形每一个状态下预设的电压阈值进行比较，获取每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。上述方案能够提高LCD驱动芯片测试的准确度及测试效率。

主权项

1.一种LCD驱动芯片的测试系统，其特征在于，包括：芯片承载台以及测试机，其中：所述芯片承载台，与所述测试机耦接，适于承载所测LCD驱动芯片；所述测试机，与所述所测LCD驱动芯片耦接，适于向所述所测LCD驱动芯片输出工作模式设置指令，以设置所述所测LCD驱动芯片的实际工作模式；在所述实际工作模式下，接收所述所测LCD驱动芯片输出的波形，依次提取每帧波形在每一个状态下的电压值，将每帧波形在第j个状态下的电压值V_j与预设的第一电压阈值V_i1和第二电压阈值V_i2进行比较，当V_j＞V_i1时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第一状态码；当V_j＜V_i2时，将所述第j个状态对应的比较结果设定为第二状态码；其中，V_i＞V_i1＞V_i2＞V_i+1，1≤i≤n‑1，V_i为第i个档位对应的电压值，V_i+1为第i+1个档位对应的电压值，n为根据预设的理论波形电压值所划分出的档位数目，且i、n均为整数；每帧波形在每一个状态下对应的所述第一状态码以及所述第二状态码的集合为所述每帧波形的比较结果；将所述每帧波形的比较结果与所述实际工作模式下所述每帧波形的预设值进行对比，获取所述实际工作模式下所有帧波形的比较结果。