[发明专利]一种陶瓷封装元器件快速开封的方法在审
申请号: | 201710005897.0 | 申请日: | 2017-01-05 |
公开(公告)号: | CN108275330A | 公开(公告)日: | 2018-07-13 |
发明(设计)人: | 郑明辉;童浩;戴新国;梁超;高丽珠 | 申请(专利权)人: | 富士康(昆山)电脑接插件有限公司;鸿腾精密科技股份有限公司 |
主分类号: | B65B69/00 | 分类号: | B65B69/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215316 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明揭示了一种陶瓷封装元器件快速开封的方法,该方法包括以下步骤:A、用X射线透视仪拍摄需要开封的元器件样品,以确定芯片相应的位置;B、用锉刀对芯片位置上面的陶瓷封体进行平磨直至距芯片表面0.5mm~1mm时停止平磨;C、使用铜箔将元器件样品包裹固定并去除需要开封位置的铜箔;D、配制腐蚀液并加热至沸腾;E、将包裹好的元器件样品浸入沸腾的腐蚀液中,5秒钟后迅速并放入到丙酮溶液中进行清洗;F、观察开封状况,如果陶瓷封体去除不完全,重复步骤E直至陶瓷封体去除干净;G、将陶瓷封体去除完全的元器件放入盛有丙酮溶液的烧杯中,再将烧杯放入超声波清洗机中进行振荡清洗,将残留物清洗干净后进行干燥,完成元器件的开封。 | ||
搜索关键词: | 元器件 封体 去除 陶瓷 丙酮溶液 快速开封 陶瓷封装 开封 腐蚀液 放入 平磨 铜箔 清洗 沸腾 烧杯放入超声波 浸入 锉刀 开封位置 芯片表面 芯片位置 振荡清洗 清洗机 烧杯 加热 配制 芯片 拍摄 重复 观察 | ||
【主权项】:
1.一种陶瓷封装元器件快速开封的方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:A、用X射线透视仪拍摄需要开封的元器件样品,拍摄X‑ray照片以确定芯片相应的位置;B、用锉刀对芯片位置上面的陶瓷封体进行平磨,逐渐平磨去除芯片表面的陶瓷封体,直至平磨距芯片表面0.5mm~1mm时停止平磨;C、使用铜箔将元器件样品包裹固定,去除元器件样品上需要开封位置的铜箔;D、配制开封用腐蚀液,并将腐蚀液加热至沸腾;E、将包裹好的元器件样品浸入沸腾的腐蚀液中,5秒钟后迅速取出元器件样品,放入到丙酮溶液中进行清洗,去除元器件芯片上的陶瓷封体;F、观察开封状况,如果陶瓷封体去除不完全,重复步骤E,直至陶瓷封体去除干净;G、将陶瓷封体去除完全的元器件放入盛有丙酮溶液的烧杯中,再将烧杯放入超声波清洗机中进行振荡清洗,将芯片表面的残留物清洗干净后进行干燥,完成元器件的开封。
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