[发明专利]半导体存储器件有效
申请号: | 201710011037.8 | 申请日: | 2017-01-06 |
公开(公告)号: | CN106952926B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | 朴真佑;朴在信;朴照英;徐志雄;李锡元 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/11582 | 分类号: | H01L27/11582;H01L27/11556 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 张波 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及半导体存储器件。一种半导体存储器件包括:包括第一单元阵列区域和外围区域的衬底;多个堆叠结构,其在第一单元阵列区域上在第一方向上延伸并且在交叉第一方向的第二方向上彼此间隔开;覆盖堆叠结构的绝缘层;以及至少一个分离结构,其在外围区域上在第二方向上延伸并且在垂直于衬底的顶表面的方向上穿透绝缘层。 | ||
搜索关键词: | 半导体 存储 器件 | ||
【主权项】:
一种半导体存储器件,包括:衬底,其包括第一单元阵列区域和外围区域,所述外围区域包括在第一方向上彼此面对的第一外围区域和第二外围区域并且所述第一单元阵列区域被插置在其之间;多个堆叠结构,其在所述衬底的所述第一单元阵列区域上在所述第一方向上延伸,并且在交叉所述第一方向的第二方向上彼此间隔开;覆盖所述堆叠结构的绝缘层;以及至少一个分离结构,其在所述第一外围区域和所述第二外围区域的至少一个上在所述第二方向上延伸并且在垂直于所述衬底的顶表面的方向上穿透所述绝缘层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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