[发明专利]芯片烧录测试设备及方法有效
| 申请号： | 201710036095.6 | 申请日： | 2017-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN108318799B | 公开（公告）日： | 2020-10-27 |
| 发明（设计）人： | 林宗毅 | 申请（专利权）人： | 崇碁科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人： | 王玉双;祁建国 |
| 地址： | 中国台湾台北市内*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种芯片烧录测试设备及方法,芯片烧录测试设备包括基座、载盘、探针板、放置架、驱动机构及主机装置。载盘可叠置在承载芯片的托盘上，并能在叠置后藉由同时翻转托盘与载盘而使多个芯片倒置在载盘之上。探针板安设于基座上，探针板包括多个探针。放置架设置于基座上，放置架用以提供载盘放置后对应探针板。驱动机构设置于基座上，用以移动探针板或载盘，以使倒置在载盘上的多个芯片的接脚接触探针。主机装置是与探针板电性连接，用以在芯片的接脚接触探针板的探针时，对多个芯片进行测试或数据烧录。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 测试 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种芯片烧录测试设备，用以烧录或测试多个芯片，该多个芯片被放置于一托盘，并各具有多个接脚，其特征在于，该芯片烧录测试设备包括：一基座；一载盘，叠置在该托盘上，并能在叠置后藉由同时翻转该托盘与该载盘而使该多个芯片倒置在该载盘上，使得各该芯片的该多个接脚背向该载盘；一探针板，设置于该基座上，该探针板包括多个探针；一放置架，设置于该基座上，用以提供该载盘放置后对应该探针板，以使该多个接脚对准该多个探针；一驱动机构，设置于该基座上，用以移动该探针板或该载盘，以使倒置在该载盘上的该多个芯片的该多个接脚其中的一接脚接触各该探针；以及一主机装置，与该探针板电性连接，该主机装置用以在该接脚接触各该探针时，对该多个芯片进行测试或数据烧录。
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