[发明专利]一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器有效
| 申请号： | 201710039152.6 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN106802428B | 公开（公告）日： | 2019-01-01 |
| 发明（设计）人： | 佟亚军;谢红兰;陈敏;杜国浩;邓彪;朱化春;肖体乔 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海应用物理研究所 |
| 主分类号： | G01T1/202 | 分类号： | G01T1/202 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪 |
| 地址： | 201800 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器，其用于探测入射的X射线光束，包括闪烁体、耦合系统以及可见光探测器，其中，所述闪烁体在所述X射线光束的作用下生成可见光，所述耦合系统将所述可见光传输至所述可见光探测器，从而探测所述X射线光束，其中：所述耦合系统包括全反射式物镜、反射平面镜以及投影透镜组，其中：所述全反射式物镜基于所述可见光对所述闪烁体成像生成可见光束；所述反射平面镜将所述可见光束反射至所述投影透镜组，并且不反射所述X射线光束；所述投影透镜组将接收到的可见光束投影至所述可见光探测器。本发明提供的X射线成像探测器耐辐射并且耐高热负载，可以用在高功率密度的X射线成像探测领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 辐射 高热 负载 射线 成像 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种耐辐射和高热负载的X射线成像探测器，其用于探测入射的X射线光束的光强分布，包括闪烁体、耦合系统以及可见光探测器，其中，所述闪烁体在所述X射线光束的作用下生成可见光，所述耦合系统将所述可见光传输至所述可见光探测器，从而探测所述X射线光束的光强分布，其特征在于：所述耦合系统包括全反射式物镜、反射平面镜以及投影透镜组，其中：所述全反射式物镜包括凸面镜和凹面镜，其中凸面镜中心设有用于通过所述X射线光束的第一通孔，凹面镜中心设有第二通孔，所述全反射式物镜在所述可见光的作用下对所述闪烁体成像，以生成可见光束；所述反射平面镜上设有与所述第一通孔共轴的用于通过所述X射线光束的第三通孔，所述反射平面镜将所述可见光束反射至所述投影透镜组，并且不反射或吸收所述X射线光束；所述投影透镜组将接收到的可见光束投影至所述可见光探测器。
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