[发明专利]提高非晶带材产品叠片系数的方法有效

专利信息
申请号: 201710042230.8 申请日: 2017-01-20
公开(公告)号: CN106825466B 公开(公告)日: 2018-11-27
发明(设计)人: 高建飞;张志伟;杨阳 申请(专利权)人: 无锡顺达智能自动化工程股份有限公司
主分类号: B22D11/06 分类号: B22D11/06;B22D11/12;B22D11/16
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;刘海
地址: 214156 江苏省无锡市惠*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种提高非晶带材产品叠片系数的方法,其特征是,包括以下步骤:(1)在分卷设备上运行带材的上方设置多组传感器和长度编码器;(2)在分卷设备上将带材进行分卷,得到小卷;(3)分卷设备进行分卷时,带材宽度方向多点的厚度值传输至控制系统,并建立带材厚度的数据信息,并将该数据信息上传至数据库;(4)带材分卷前或分卷后取测试小样进行电磁性能测试,测试后电磁性能测试数据上传服务器的该卷带材的数据库中;(5)合卷操作时,控制系统匹配出若干组最佳的2卷,再由若干组中匹配出最佳的2组,最后再在2组上匹配1卷进行合带作业。本发明能够实现合卷的最优化,操作方便,提高生产效率,提高非晶带材出厂成品的质量。
搜索关键词: 提高 非晶带材 产品 系数 方法
【主权项】:
1.一种提高非晶带材产品叠片系数的方法,其特征是,包括以下步骤:(1)在分卷设备上,在运行带材的上方设置多组用于检测带材厚度的传感器和用于记录长度的长度编码器;所述传感器沿带材宽度方向布置;(2)在分卷设备上将带材进行分卷,得到小卷;对每一小卷生成唯一标识编码;(3)分卷设备进行分卷时,传感器将带材宽度方向多点的厚度值传输至控制系统,控制系统建立以带材长度为基准、带材宽度方向多个传感器检测的带材厚度值的数据信息,并将该数据信息上传服务器中该小卷对应的数据库中;(4)在小卷分卷结束后,取样一片测试小样,测试小样在电磁性能测试设备上进行测试,电磁性能测试设备沿带材宽度方向进行多点测试;测试后电磁性能测试数据上传服务器的该卷带材的数据库中;(5)合卷操作时,控制系统根据数据库中现有的合格小卷,匹配出最佳的多个小卷进行合带作业,以生产出性能优化的带材;所述步骤(5)中,控制系统匹配小卷的具体方法如下:a、在电磁性能合格、厚度值小于允许误差的合格带材小卷中,匹配出最佳的2卷使其生成一卷,保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差,并使带材端面的平均厚度差最小;b、重复步骤a的方法,匹配出若干组最佳的2卷;c、在步骤a、步骤b得到的若干组2卷中进行匹配,匹配出最佳的2组或多组使其生成一卷,保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差,并使带材端面的平均厚度差最小;d、根据生产需要,在步骤c得到的带材上再匹配1卷使生成一卷,保证该卷的厚度误差值仍小于厚度允许误差,并使带材端面的平均厚度差最小;从而完成合卷。
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