[发明专利]分析工具以及分析装置在审
申请号: | 201710057508.9 | 申请日: | 2017-01-26 |
公开(公告)号: | CN107024593A | 公开(公告)日: | 2017-08-08 |
发明(设计)人: | 松本大辅;田中贵茂;小田垣徹 | 申请(专利权)人: | 爱科来株式会社 |
主分类号: | G01N35/00 | 分类号: | G01N35/00;G01N35/04 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 王小东 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供分析工具以及分析装置。分析工具用于安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置。所述分析工具包括光测量井,所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液,并且测量所述测量溶液。所述光测量井包括开口,穿过所述开口分配所述测量溶液;测量溶液保持部,所述测量溶液保持部保持穿过所述开口分配的所述测量溶液;以及发射部,所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射,并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射。所述测量光是荧光或者化学发光。所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。 | ||
搜索关键词: | 分析 工具 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种分析工具,该分析工具被构造成安装至自动分析样品中所含的特定成分的分析装置,所述分析工具包括:光测量井,所述光测量井保持作为测量对象的测量溶液并且测量所述测量溶液,所述光测量井包括:开口,所述开口分配所述测量溶液;测量溶液保持部,所述测量溶液保持部保持经由所述开口分配的所述测量溶液;以及发射部,所述发射部使测量光沿所述分析装置的光接收方向发射,并且所述测量光被致使从保持在所述测量溶液保持部中的所述测量溶液发射,其中,所述测量光是荧光或者化学发光,并且其中,所述测量溶液保持部具有沿所述光接收方向扁平的扁平轮廓。
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