[发明专利]半导体装置在审

专利信息
申请号: 201710063487.1 申请日: 2017-02-03
公开(公告)号: CN107833880A 公开(公告)日: 2018-03-23
发明(设计)人: 崔秀明 申请(专利权)人: 株式会社东芝
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 永新专利商标代理有限公司72002 代理人: 杨谦,房永峰
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 根据一个实施方式,半导体装置具备第1导电型的基板、设于基板上方的第1电极、设于基板上方的第2电极、设于基板与第1电极之间并电连接于第1电极的第1导电型的第1半导体区域、设于基板与第2电极之间的第2导电型的第2半导体区域、设于第1半导体区域与第2半导体区域之间以及基板与第2电极之间并电连接于第2电极的第2导电型的第3半导体区域、设于第2半导体区域与第2电极之间并电连接于第2电极的第1导电型的第4半导体区域、设于基板与第2半导体区域之间且第2导电型杂质浓度高于第2半导体区域以及第3半导体区域的第2导电型的第5半导体区域、以及设于第2半导体区域与第3半导体区域之间的第1导电型的第6半导体区域。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
一种半导体装置,其特征在于,具备:第1导电型的基板;第1电极,设于上述基板上方;第2电极,设于上述基板上方;第1导电型的第1半导体区域,设于上述基板与上述第1电极之间,与上述第1电极电连接;第2导电型的第2半导体区域,设于上述基板与上述第2电极之间;第2导电型的第3半导体区域,设于上述第1半导体区域与上述第2半导体区域之间、以及上述基板与上述第2电极之间,与上述第2电极电连接;第1导电型的第4半导体区域,设于上述第2半导体区域与上述第2电极之间,与上述第2电极电连接;第2导电型的第5半导体区域,设于上述基板与上述第2半导体区域之间,第2导电型杂质浓度高于上述第2半导体区域以及上述第3半导体区域;以及第1导电型的第6半导体区域,设于上述第2半导体区域与上述第3半导体区域之间。
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