[发明专利]具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化有效
| 申请号： | 201710070065.7 | 申请日： | 2017-02-09 |
| 公开（公告）号： | CN107046423B | 公开（公告）日： | 2021-07-06 |
| 发明（设计）人： | 沈军华;E·C·古塞瑞 | 申请（专利权）人： | 美国亚德诺半导体公司 |
| 主分类号： | H03M1/06 | 分类号： | H03M1/06;H03M1/46 |
| 代理公司： | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人： | 刘倜 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及具有动态位试验设置的SAR ADC性能优化。模数转换器(ADC)电路包括数模转换(DAC)电路，其包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的最低有效位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 动态 试验 设置 sar adc 性能 优化 | ||
【主权项】：
一种模数转换器(ADC)电路：包括至少N+n个加权电路元件，其中，N和n是大于零的正整数，n是ADC电路的至少显著位(LSB)的重复位数；采样电路，被配置在ADC电路的输入采样输入，和加权电路元件应用采样电压；比较器，被配置为在位试验期间比较DAC的输出电压和指定的阈值电压；和逻辑电路，被配置以执行至少N+n加权电路部件的位试验，并根据n个LSB重复位的值调整一个或多个N位试验的一个或多个参数。
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