[发明专利]一种CMOS传感器测试系统

摘要

本发明涉及一种CMOS传感器测试系统，主要解决现有技术中存在的不能够自动测试多种光照条件下的图像质量，不能对漏电现象进行测试的技术问题。本发明通过采用用于采集数据的数据采集装置及与用于控制所述数据采集装置统计测试总数量及各类不良数量的软件平台，数据采集装置包括待测CMOS传感器，开短路测试模块，与开短路测试模块连接的图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器的工业生产中。

主权项

一种CMOS传感器测试系统，其特征在于：所述测试系统包括：用于采集数据的数据采集装置及用于统计分析测试结果的上位机；所述数据采集装置包括待测的CMOS传感器，图像处理器，与所述图像处理器连接的开关选择电路模块及开短路测试模块，与所述开短路测试模块连接的图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；所述图像处理器用于控制所述开关选择电路模块,开短路测试模块，图形测试模块，漏电测试模块及系统电源模块；所述开关选择电路模块用于控制所述CMOS传感器；所述开短路测试模块用于测试CMOS传感器的Pin脚与电源Pin之间开短路情况，Pin脚与地Pin的开短路情况以及电源Pin与地Pin之间的开短路情况；所述图像测试模块用于测试CMOS传感器在不同光照条件下的图像性能；所述漏电测试模块用于测试CMOS传感器的漏电情况；所述系统电源模块用于所述CMOS传感器，图像处理器，开关选择电路模块，开短路测试模块，图形测试模块及漏电测试模块的供电。