[发明专利]用以在FDSOI中实施后偏置的布局及布线方法有效

专利信息
申请号: 201710076015.X 申请日: 2017-02-13
公开(公告)号: CN107086218B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: H·J·普雷乌塞恩;S·布洛克;U·亨泽尔;C·豪费;F·普格利泽 申请(专利权)人: 格芯(美国)集成电路科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L27/12
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供了一种用以在完全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)中实施后偏置(back bias)的布局及布线方法。依据本文中的一些示例实施例,该布局及布线方法包括沿第一方向布局第一多个标准连接阱单元,该标准连接阱单元通过以下方式形成:在第一金属化层中布线p‑BIAS线VPW及n‑BIAS线VNW,以及在第二金属化层中布线功率轨线及接地轨线,该VPW及该VNW延伸跨越各该功率轨线及接地轨线,其中,该第一多个标准连接阱单元的该VPW连续连接且该第一多个标准连接阱单元的该VNW连续连接。
搜索关键词: 用以 fdsoi 实施 偏置 布局 布线 方法
【主权项】:
一种用以在完全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)中实施后偏置的布局及布线方法,包括:沿第一方向布局第一多个标准连接阱单元,该标准连接阱单元通过以下方式形成:在第一金属化层中布线p‑BIAS线(VPW)及n‑BIAS线(VNW),以及布线功率(VSS)轨线及接地(VDD)轨线,该VPW及该VNW延伸跨越第二金属化层中的该VDD轨线及该VSS轨线,其中,该第一多个标准连接阱单元的该VPW连续连接,以及其中,该第一多个标准连接阱单元的该VNW连续连接。
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