[发明专利]转塔式测试设备及其转塔式测试方法有效
| 申请号： | 201710076189.6 | 申请日： | 2017-02-13 |
| 公开（公告）号： | CN108427043B | 公开（公告）日： | 2020-07-03 |
| 发明（设计）人： | 傅廷明 | 申请（专利权）人： | 华邦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人： | 郭晓宇 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种转塔式测试设备及其转塔式测试方法，其中转塔式测试设备，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚。该转塔式测试设备包括一吸嘴、一作业基台、一测试座以及一抵接单元。吸嘴适于吸附该元件本体以移动该电子元件。测试座设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括一耦接单元以及一主动部。耦接单元包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部。主动部连接该弹性结构。在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，在一测试状态下，该主动部所受到的该反作用力被释放。 | ||
| 搜索关键词： | 塔式 测试 设备 及其 方法 | ||
【主权项】：
1.一种转塔式测试设备，其特征在于，适于对一电子元件进行测试，该电子元件包括一元件本体以及多个引脚，包括：一吸嘴，适于吸附该元件本体以移动该电子元件；一作业基台；一测试座，设于该作业基台，该吸嘴将该电子元件移动至该测试座以进行测试程序，包括:一耦接单元，包括一耦接部、一压接脚部以及一弹性结构，该弹性结构连接该压接脚部；以及一主动部，连接该弹性结构；以及一抵接单元，在一取放状态下，该抵接单元对该主动部施加一反作用力，在一测试状态下，该抵接单元与该测试座分离，藉此该主动部所受到的该反作用力被释放，其中，在一取放状态下，该主动部受到该反作用力，该主动部推挤该弹性结构，使该压接脚部维持于一第一方位而容许取放该电子元件，在一测试状态下，该主动部所受到的该反作用力被释放，该主动部释放该弹性结构，使该压接脚部移至一第二方位以压接该多个引脚与该耦接部，藉此该电子元件通过该耦接部进行测试。
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