[发明专利]非易失性存储器的制造方法及非易失性存储器有效

专利信息
申请号: 201710104009.0 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN107123651B 公开(公告)日: 2022-03-29
发明(设计)人: 刘键炫;庄强名;李智銘;庄坤苍;廖宏哲;盘家铭;陈信吉 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/11563 分类号: H01L27/11563;H01L27/11578;H01L27/11517;H01L27/11551
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明的实施例提供了一种制造非易失性存储器的方法。提供包括第一区域和位于第一区域的外围处的第二区域的衬底。在衬底的第一区域上形成多个堆叠结构。在衬底的第二区域上形成壁结构。在衬底上方形成导电层。在导电层上方形成底部抗反射涂层。回蚀刻底部抗反射涂层和导电层。图案化导电层。本发明的实施例还提供了一种非易失性存储器。
搜索关键词: 非易失性存储器 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储器的制造方法,包括:提供衬底,所述衬底包括第一区域和定位在所述第一区域的外围处的第二区域;在所述衬底的第一区域上形成多个堆叠结构;在所述衬底的第二区域上形成壁结构;在所述衬底上方形成导电层;在所述导电层上方形成底部抗反射涂层;回蚀刻所述底部抗反射涂层和所述导电层;以及图案化所述导电层。
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