[发明专利]微痕量荧光探测仪有效值补偿方法及系统有效
| 申请号： | 201710109577.X | 申请日： | 2017-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN107101980B | 公开（公告）日： | 2020-09-25 |
| 发明（设计）人： | 刘秦豫;吴哲;张天琪;王先松 | 申请（专利权）人： | 深圳砺剑防卫技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人： | 赵勍毅 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市福*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法，包括：a.采集获得膜片荧光值的原始数据；b.对上述原始数据进行平滑滤波；c.根据上述平滑滤波后的数据，计算得到检测峰值；d.对上述检测峰值进行修正，以对荧光材料检测有效值进行补偿。本发明还涉及一种微痕量荧光探测仪有效值补偿系统。本发明能够根据膜片使用状态进行动态的数据补偿，稳定仪器的灵敏度和误报率，增加膜片的使用寿命。 | ||
| 搜索关键词： | 痕量 荧光 探测仪 有效值 补偿 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种微痕量荧光探测仪有效值补偿方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：a.采集获得膜片荧光值的原始数据；b.对上述原始数据进行平滑滤波；c.根据上述平滑滤波后的数据，计算得到检测峰值；d.对上述检测峰值进行修正，以对荧光材料检测有效值进行补偿。
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