[发明专利]一种测试电路及芯片

摘要

本发明实施例提供一种测试电路及芯片，涉及集成电路领域，能够在不需要PAD的情况下，在芯片中集成该测试电路并对每个待测单元的器件参数进行测试，从而在先进工艺下以很小代价换来芯片工艺问题定位能力的提升。该测试电路包括：待测电路、解码器、测试切换器、激励单元和测试单元；解码器用于接收第一信号，并对第一信号进行解析，得到寻址信号；激励单元用于接收第二信号，并根据第二信号，生成激励信号，向寻址信号指示的第一待测单元发送激励信号；第一待测单元用于响应于寻址信号，基于激励信号产生测试信号；测试切换器用于根据解码器所述寻址信号，选择第一待测单元以输出测试信号；测试单元用于对测试信号进行采样，得到测试结果。

主权项

1.一种测试电路，其特征在于，所述测试电路包括待测电路，与所述待测电路连接的解码器、测试切换器和激励单元，以及与所述测试切换器连接的测试单元，所述测试切换器与所述解码器相连，所述待测电路中包括至少一个待测单元；其中，所述解码器，用于接收第一信号，并对所述第一信号进行解析，得到寻址信号，所述寻址信号用于指示所述至少一个待测单元中的第一待测单元；所述激励单元，用于接收第二信号，并根据所述第二信号，生成激励信号，向所述寻址信号指示的所述第一待测单元发送所述激励信号，所述激励信号用于测试所述第一待测单元；所述第一待测单元，用于响应于所述寻址信号，基于所述激励信号产生测试信号；所述测试切换器，用于根据所述寻址信号，选择所述第一待测单元以输出所述测试信号；所述测试单元，用于对所述测试信号进行采样，得到测试结果；所述测试电路集成于待测芯片中。