[发明专利]一种设备辐射干扰的评估方法有效
| 申请号： | 201710127350.8 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN106932672B | 公开（公告）日： | 2019-06-07 |
| 发明（设计）人： | 吴伟;吴跃佳 | 申请（专利权）人： | 吴伟;吴跃佳 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 325000 浙江省温*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 一种设备辐射干扰的评估方法。该方法包括：修改设备前，获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr；找出辐射干扰频谱中幅度较大值Ai及其对应的频率fi，i=1，2，…N；找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi；计算标定系数Ci=Ai/Bi；修改设备后，重新获取设备的传导干扰频谱，并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰：F’r=B’i X Ci。本发明的方法的有益效果在于：对设备修改后的设备电磁兼容状况验证分析能够在生产车间进行，加快产品的开发速度；由传导干扰评估辐射干扰，减少了昂贵的屏蔽室测试费用，从而降低设备电磁兼容成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 设备 辐射 干扰 评估 方法 | ||
【主权项】：
1.一种设备辐射干扰的评估方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：修改设备前，获取设备的传导干扰频谱Fc和辐射干扰频谱Fr，找出辐射干扰频谱中特定频率电磁干扰的幅度值Ai及其对应的频率fi， i= 1，2，…N；找出传导干扰频谱中对应频率fi的幅度值Bi；计算标定系数Ci = Ai/Bi；修改设备后，重新获取设备的传导干扰频谱，并且根据以下公式评估设备修改后的辐射干扰：F’r = B’i× Ci其中F’r为设备修改后的辐射干扰；B’i为设备修改后的传导干扰。
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