[发明专利]一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法有效
| 申请号： | 201710128628.3 | 申请日： | 2017-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN106909484B | 公开（公告）日： | 2019-12-17 |
| 发明（设计）人： | 宋慧敏 | 申请（专利权）人： | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 37205 济南舜源专利事务所有限公司 | 代理人： | 张亮 |
| 地址： | 215100 江苏省苏州市吴*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供一种用于存储环境下模拟坏盘测试的系统及方法，通过发明的方案可以在测试当中需要模拟各种硬盘故障情况，从而单独靠拔硬盘并不能全面的复现用户实际使用中遇到的各种问题的情况得以解决，这种测试方法可以模拟用户使用当中硬盘出现读写错误的环境，能更全面的测试存储产品。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 存储 环境 模拟 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于存储环境下模拟坏盘测试的方法，其特征在于，步骤包括：/nSS1、建立磁盘阵列和逻辑卷初始化；/nSS2、生成一个大容量文件以确保文件不会被完全缓存在内存中；/nSS3、注入坏块；/nSS4、异常重构及输出测试结果；/n步骤SS1包括：/nSS11、构建磁盘阵列环境；/nSS12、注入坏块并添加io压力，其中io压力由同时使用一个dd读线程和一个dd写线程模拟；/nSS13、查看磁盘阵列以及热备盘状态；/n步骤SS12中的dd读线程和dd写线程的读写区域在设置的坏块的范围内；/n步骤SS4包括：/nSS41、将dd写线程的数据源改为大容量文件；/nSS42、通过磁盘阵列容量和重构进度计算，在磁盘阵列重构大容量空间之前、之后和完全重构完成的三个时间点通过dd读出写入的测试文件；/nSS43、对比写入和读出文件的md5值是否发生变化；/nSS44、输出测试结果。/n
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