[发明专利]半导体装置封装有效

专利信息
申请号: 201710165705.2 申请日: 2017-03-20
公开(公告)号: CN107342268B 公开(公告)日: 2021-06-18
发明(设计)人: 余振华;黄子松;蔡豪益;曾明鸿;郭鸿毅 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/498;H01L23/58
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李昕巍;章侃铱
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 本公开部分实施例提供一种半导体装置封装。半导体装置封装包括一半导体装置。半导体装置封装也包括配置用于在磁流通过时产生电流的一线圈。半导体装置封装还包括环绕半导体装置以及线圈的一成型材料。并且,半导体装置封装包括位于成型材料之上的一导电金属件。一开口形成于导电金属件之上。
搜索关键词: 半导体 装置 封装
【主权项】:
一种半导体装置封装,包括:一半导体装置;一线圈,配置用于在磁流通过该线圈时产生电流;一成型材料,环绕该半导体装置以及该线圈;以及一导电金属件,位于该成型材料之上,其中一开口形成于该导电金属件之上。
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