[发明专利]相移掩模坯板、相移掩模及显示装置的制造方法有效
申请号: | 201710172915.4 | 申请日: | 2017-03-22 |
公开(公告)号: | CN107229181B | 公开(公告)日: | 2021-07-20 |
发明(设计)人: | 牛田正男;坪井诚治 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26;G03F1/80 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 朴渊 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种相移掩模坯板,抑制制作相移掩模时的蚀刻液的消耗量,且用于得到精细且高精度的图案和不产生凹缺陷的相移掩模。相移掩模坯板(10)在透明基板(11)上将相移膜(12)、蚀刻阻止膜(13)、遮光膜(14)依次形成,相移膜(12)由含有铬和选自氧、氮、碳、氟中的至少一种的铬化合物构成,蚀刻阻止膜(13)由含有金属和硅的金属硅化物构成,相移膜(12)和遮光膜(14)是能够用同一蚀刻液A进行蚀刻的材料,且调整为蚀刻液A对遮光膜(14)的湿法蚀刻速度比蚀刻液A对相移膜(12)的湿法蚀刻速度更快,蚀刻阻止膜(13)是对于遮光膜(14)的蚀刻液A具有耐蚀刻性的材料,且调整蚀刻阻止膜(13)的膜厚、材料、组成比,以使蚀刻阻止膜(13)被能够蚀刻蚀刻阻止膜(13)的蚀刻液B剥离为止所需的时间成为15分钟以下。 | ||
搜索关键词: | 相移 掩模坯板 显示装置 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种相移掩模坯板,其特征在于,所述相移掩模坯板是相移掩模的原版,所述相移掩模是在透明基板上将相移膜、蚀刻阻止膜、遮光膜分别通过湿法蚀刻进行构图,形成包含遮光部、相移部、透光部的转印图案而制成的相移掩模,所述相移掩模使透过所述相移部的光的相位和透过所述透光部的光的相位不同,由此使通过所述相移部和所述透光部的边界部附近的光相互抵消而提高边界部的对比度,所述相移掩模坯板中,在所述透明基板上依次形成有相移膜、蚀刻阻止膜、遮光膜,所述相移膜由含有铬和选自氧、氮、碳、氟中的至少一种的铬化合物构成,所述蚀刻阻止膜由含有金属和硅的金属硅化物构成,所述相移膜和所述遮光膜是能够用同一蚀刻液A进行蚀刻的材料,且调整为所述蚀刻液A对所述遮光膜的湿法蚀刻速度比所述蚀刻液A对所述相移膜的湿法蚀刻速度更快,所述蚀刻阻止膜是对于所述遮光膜的蚀刻液A具有耐蚀刻性的材料,且调整所述蚀刻阻止膜的膜厚、材料、组成比,以使所述蚀刻阻止膜被能够蚀刻所述蚀刻阻止膜的蚀刻液B剥离为止所需的时间成为15分钟以下。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于HOYA株式会社,未经HOYA株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710172915.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备