[发明专利]图案修正方法、光掩模及其制造方法以及修正膜形成装置有效
申请号: | 201710177126.X | 申请日: | 2017-03-23 |
公开(公告)号: | CN107229182B | 公开(公告)日: | 2021-02-09 |
发明(设计)人: | 中山宪治 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/36 | 分类号: | G03F1/36;G03F1/70 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供图案修正方法、光掩模及其制造方法以及修正膜形成装置。提供一种技术,在利用激光CVD法修正在光掩模的转印用图案中产生的缺陷时,能够利用比以往更抑制了透过率分布的偏差的修正膜来修正转印用图案的缺陷。图案修正方法是对于在基板的主表面上形成有转印用图案的光掩模的转印用图案形成修正膜的方法,其具有:确定形成修正膜的对象区域的区域确定工序;和在原料气体的气氛中在对象区域内照射激光而形成修正膜的成膜工序,在成膜工序中,通过在对象区域内照射从激光振荡器射出的激光而形成规定尺寸的单位修正膜,并且,在对象区域内使多个单位修正膜各自的一部分彼此重合来形成具有规定膜厚的修正膜。 | ||
搜索关键词: | 图案 修正 方法 光掩模 及其 制造 以及 形成 装置 | ||
【主权项】:
一种图案修正方法,在该图案修正方法中,对于在基板的主表面上形成有转印用图案的光掩模的所述转印用图案形成修正膜,其特征在于,所述图案修正方法具有:确定形成所述修正膜的对象区域的区域确定工序;和在原料气体的气氛中在所述对象区域内照射激光而形成所述修正膜的成膜工序,在所述成膜工序中,通过在所述对象区域内照射从激光振荡器射出的激光而形成规定尺寸的单位修正膜,并且,在所述对象区域内,通过使多个所述单位修正膜各自的一部分彼此重合来形成具有规定膜厚的修正膜。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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