[发明专利]基于扫描探针的光路减震装置及方法有效
申请号: | 201710196841.8 | 申请日: | 2017-03-29 |
公开(公告)号: | CN107064563B | 公开(公告)日: | 2020-06-23 |
发明(设计)人: | 蓝剑越;刘争晖;徐耿钊;钟海舰;陈科蓓;张春玉;徐科 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 |
主分类号: | G01Q30/00 | 分类号: | G01Q30/00 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽 |
地址: | 215123 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种基于扫描探针的光路减震装置及方法,用于减少光路振动,所述装置包括控制器、第一扫描振镜及一第二扫描振镜、第一采样镜及第二采样镜、第一四象限光探测器及第二四象限光探测器。本发明的优点在于,通过四象限光探测器感应光路中光信号,并将其位置信息进行实时反馈,通过扫描振镜调节光源的光路,使得样品上的光斑位置相对样品保持稳定不变,实现控制光斑稳定不漂移。本发明方法在减少光路振动的基础上,提高了扫描探针显微镜在材料表面光电测量上的稳定性和可靠性,提升了扫描探针显微镜在微区光电响应表征的准确度。 | ||
搜索关键词: | 基于 扫描 探针 减震 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种基于扫描探针的光路减震装置,其特征在于,包括: 一控制器; 一第一扫描振镜及一第二扫描振镜,所述第一扫描振镜设置在光源之后,用于改变光源发出的光的光路,所述第二扫描振镜设置在所述第一扫描振镜与样品台之间,用于改变第一扫描振镜反射的光的光路,并将光反射向样品台,所述第一扫描振镜及第二扫描振镜分别与控制器电连接,所述控制器控制第一扫描振镜及第二扫描振镜的转动; 一第一采样镜及一第二采样镜,所述第一采样镜设置在第一扫描振镜及第二扫描振镜之间的光路上,用于采集该光路的光信号,所述第二采样镜设置在第二扫描振镜与样品台之间的光路上,用于采集该光路的光信号; 一第一四象限光探测器及一第二四象限光探测器,所述第一四象限光探测器相对于第一采样镜设置,用于检测来自第一采样镜的光,并将该光在第一四象限光探测器上的位置信息传递给控制器,所述第二四象限光探测器相对于第二采样镜设置,用于检测来自第二采样镜的光,并将该光在第二四象限光探测器上的位置信息传递给控制器。
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