[发明专利]一种用于AMOLED产品的绑定效果检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201710203315.X 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN106932643A 公开(公告)日: 2017-07-07
发明(设计)人: 李幸元;胡铁柱 申请(专利权)人: 深圳市立德通讯器材有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02;G01R31/04
代理公司: 深圳市康弘知识产权代理有限公司44247 代理人: 胡朝阳,尹彦
地址: 518000 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种用于AMOLED产品的绑定效果检测装置,AMOLED产品包含AMOLED玻璃板、IC芯片及FPC线路板,FPC线路板设有两组与IC芯片电连接的COG测试点。绑定效果检测装置包括底座、旋转探头及显示器,旋转探头上设有两组COG阻抗探针,该两组阻抗探针的排布位置分别与两组COG测试点相同,旋转探头可转动至FPC线路板上方,两组COG阻抗探针与两组COG测试点接触。本发明还提出了一种上述绑定效果检测装置的检测方法。本发明通过检测绑定阻抗来判定绑定效果,提高检测效率和自动化水平。
搜索关键词: 一种 用于 amoled 产品 绑定 效果 检测 装置 方法
【主权项】:
一种用于AMOLED产品的绑定效果检测装置,所述AMOLED产品包含AMOLED玻璃板、绑定在所述AMOLED玻璃板上的IC芯片、绑定在所述AMOLED玻璃板上的FPC线路板,所述FPC线路板的导电端连接在AMOLED玻璃板上、测试端位于AMOLED玻璃板外部,所述测试端设有两组与所述IC芯片电连接的COG测试点,其特征在于,所述绑定效果检测装置包括:底座、可旋转设于所述底座上的旋转探头、与所述旋转探头电连接的显示器,所述旋转探头上设有两组COG阻抗探针,该两组阻抗探针的排布位置分别与两组COG测试点相同;所述底座上设有用于放置AMOLED产品的测试区,所述旋转探头可转动至FPC线路板上方,所述两组COG阻抗探针与两组COG测试点接触。
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