[发明专利]一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法

摘要

本发明公开了一种电容式触控按键芯片检测标定系统及方法，该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块；该检测系统及方法能够对多个触控按键芯片进行灵敏度性能测量及时钟标定，具备芯片插入检测、双层模式下终端图形化性能显示、对比分析、多电压输出控制、控制软件实时记录保存数据和系统差错处理等功能。

主权项

1.一种电容式触控按键芯片检测标定系统，其特征在于该系统包括有插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块和终端控制模块，所述插入检测及标定模块、通信控制及寄存器配置模块、数据存储模块、按键处理模块、对比分析模块、差错处理模块、电源控制模块、终端控制模块集成于ARM处理器中；/n所述插入检测及标定模块，是对所接触芯片管脚的电气连接特性进行检测，对被测芯片的烧录接口及其他通信管脚进行连接性检查即开短路测试；/n所述数据存储模块是存放文件索引表、客户hex的代烧录程序文件、触控按键检测hex文件、芯片型号及标识信息及芯片设计指标数据；/n所述通信控制及寄存器配置模块，包含研发测试模式下和批量测试模式下的人机交互处理和寄存器配置的功能；/n所述按键处理模块，包含触摸芯片按键检测和输入按键检测两个部分，触摸芯片按键检测是检测触控按键的灵敏度，进而根据分析对比方法来判断芯片触控指标性能的优劣；输入按键检测是检测在批量测试模式下人机接口，主要完成用户输入的命令和数据的操作，完成批量测试模式下触控按键芯片性能的激励输入；/n所述对比分析模块，是对利用标准模块和被测芯片的触控按键依据检测原理对检测到的数据进行对比分析，被测芯片按键处理模块将采集到的数据传送给对比分析模块，对比分析模块运行标准检测单元采集同源触控信息，然后将触控信息和设计标准进行对比分析，进而得到在不同模式下所需要的触控按键性能差别信息；/n所述差错处理模块，是检测上下位机之间通信数据帧是否正确、判断USB插入的错误处理、被测芯片管脚是否接触良好和触控按键时钟频率标定出错处理；/n所述电源控制模块，包含被测芯片烧录电压控制和被测芯片供电电压控制，被测芯片烧录电压控制是PC端通过发送指令实现对不同ID类型芯片输出不同烧录电压的操作；被测芯片供电电压控制是控制多个芯片中指定芯片供电或者掉电的控制；/n所述终端控制模块，包含PC控制和LCD显示终端等两个部分，负责不同模式下测试执行的人机接口，不同工作模式下系统可自动切换显示方式，也能够在研发测试阶段由PC控制选择显示方式。/n