[发明专利]AMOLED大板检测装置及其检测方法

摘要

本发明涉及一种AMOLED大板检测装置及其检测方法，装置包括：若干显示单元和若干连接单元，显示单元包括第一绝缘层、第二金属层的第二金属层本体、第二绝缘层、第三金属层、第三绝缘层和第四金属层；连接单元包括第一金属层、第一绝缘层、第二金属层的第一连接部和第二连接部、第二绝缘层、第三金属层、第三绝缘层和第四金属层；第一连接部和第二连接部相互间隔设置，第二绝缘层至少部分地设置于第一连接部和第二连接部之间，第一连接部与第二金属层本体连接。由于第二金属层的第一连接部和第二连接部相互间隔而不连接，对各显示单元进行阵列检测，各显示单元分别相互不连接，避免由于共线而引起阵列检测的结果异常，能够检测出存在缺陷的显示单元。

主权项

一种AMOLED大板检测装置，其特征在于，包括：若干显示单元和若干连接单元，每一所述显示单元分别与一所述连接单元连接，各所述显示单元至少包括依次连接的第一绝缘层、第二金属层的第二金属层本体、第二绝缘层、第三金属层、第三绝缘层和第四金属层；各所述连接单元至少包括依次连接的第一金属层、所述第一绝缘层、所述第二金属层的第一连接部和第二连接部、所述第二绝缘层、所述第三金属层、所述第三绝缘层和所述第四金属层；所述第一绝缘层开设有第一通孔，所述第二金属层通过所述第一通孔与所述第一金属层连接；所述第一连接部和所述第二连接部相互间隔设置，所述第二绝缘层至少部分地设置于所述第一连接部和所述第二连接部之间，所述第一连接部与所述第二金属层本体连接；所述第二绝缘层开设有第二通孔，所述第三金属层通过所述第二通孔与所述第二金属层连接，所述第三绝缘层开设有第三通孔，所述第四金属层通过所述第三通孔与所述第三金属层连接。