[发明专利]一种三维光学测量方孔垂直差的方法在审
| 申请号： | 201710283862.3 | 申请日： | 2017-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN107421440A | 公开（公告）日： | 2017-12-01 |
| 发明（设计）人： | 孙慧霖;金文胜;王旭刚;刘燕;刘岩;林爱;马雪情;赵玉娟;王博;王忠龙;尹红丽;马森;潘远亮;刘哲夫;刘英华;张鹏 | 申请（专利权）人： | 中国航发哈尔滨轴承有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/26 |
| 代理公司： | 哈尔滨市松花江专利商标事务所23109 | 代理人： | 牟永林 |
| 地址： | 150025 黑龙*** | 国省代码： | 黑龙江;23 |
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| 摘要： | 一种三维光学测量方孔垂直差的方法，它涉及一种测量方孔垂直差的方法，具体涉及一种三维光学测量方孔垂直差的方法。本发明为了解决拉刀试验件垂直差测量定位难，效率低，重复性难保证的问题。本发明的具体步骤为光学模式工件定位；光学模式建立工件坐标系；光学模式与探针模式切换切换到探针模式；点击System图标，点击Change Sensor图标，选择Get Stylus，标准配置为1mm探针故选取1mm探针，将其安装到测头装置上；此时屏幕会出现一个探针的图像，代表切换成功；测量试验件的A、B、C、D四个平面；垂直差评价选择评价模式，点击垂直差评价图标，选取被评价要素，将评价结果保存并生成TXT文件；最后将完成的测量及评价程序保存；光学引导探针实现自动测量。本发明属于机械领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 三维 光学 测量 垂直 方法 | ||
【主权项】：
一种三维光学测量方孔垂直差的方法，其特征在于：所述一种三维光学测量方孔垂直差的方法是通过如下步骤实现的：步骤一、光学模式工件定位；步骤二、光学模式建立工件坐标系；步骤三、光学模式与探针模式切换：切换到探针模式；点击System图标，点击Change Sensor图标，选择Get Stylus，标准配置为1mm探针故选取1mm探针，将其安装到测头装置上；此时屏幕会出现一个探针的图像，代表切换成功；步骤四、测量试验件的A、B、C、D四个平面；步骤五、垂直差评价：选择评价模式，点击垂直差评价图标，选取被评价要素，将评价结果保存并生成TXT文件；最后将完成的测量及评价程序保存；步骤六、光学引导探针实现自动测量。
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