[发明专利]双通道TIADC系统失配误差盲校正方法

摘要

本发明公开了一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法，包括获取各通道的采样数据、校准通道1的数据、计算通道0采样数据和通道1的第一次校准数据的互相关函数、计算通道0的采样数据与各分数延迟滤波器输出数据的互相关函数、建立函数关系、估计失配时间、滤波失配时间步骤。本发明采用无需使用闭环回路的方式对系统的三个失配误差进行估计，既无需额外的硬件来实现对误差参数的校准，也不需要额外的校准信号。

主权项

一种双通道TIADC系统失配误差盲校正方法，其特征在于：所述双通道TIADC系统中通道0作为参考通道，通道1作为测量通道；所述双通道TIADC系统中输入的被测信号X(t)为宽平稳随机过程；包括以下步骤：步骤1：获取个通道的采样数据：分别获取通道0和通道1的采样数据X0(k)和X1(k)，并求通道0和通道1的采样数据的均值和均方值E[X0(k)]、E[X1(k)]、通道0和通道1的采样数据X0(k)和X1(k)表示为：X0(k)=X(2k)X1(k)=(1+g1)X(2k+1-Δt1)+o1---(1)]]>其中，Δt1为所述系统的失配时间，|Δt1|≤0.1；g1为通道1的增益误差，o1为通道1的偏置误差；计算方法为：g1=E[X12(k)]-{E[X1(k)]}2E[X02(k)]-{E[X0(k)]}2-1o1=E[X1(k)]-E[X0(k)]×(g1+1).---(2)]]>步骤2：校准通道1的数据：用通道1的增益误差g1和偏置误差o1校准通道1的采样数据，获得通道1的第一次校准数据X‾1(k)=X1(k)-o11+g1.---(3)]]>步骤3：计算通道0采样数据X0(k)和通道1的第一次校准数据的互相关函数RX‾1X0(k,k)=E[X‾1(k)X0(k)]=E[X0(k+1-Δt12)X0(k)]=RX0(0.5-Δt1/2)---(4)]]>步骤4：计算通道0的采样数据与各分数延迟滤波器输出数据的互相关函数：将通道0的采样数据X0(k)送入具有n个分数延迟滤波器的分数延迟滤波器组，计算通道0各分数延迟滤波器输出数据和通道0的采样数据的互相关函数Rx0(Δxi),i∈[1,n]；第i个分数延迟滤波器的延迟Δxi为：Δxi=0.45+0.1n-1×(i-1),i∈[1,n]---(5)]]>步骤5：建立函数关系：以通道0各分数延迟滤波器输出数据和通道0的采样数据的互相关函数Rx0(Δxi)为自变量x，以各分数延迟滤波器的延迟Δxi为因变量y，建立函数关系；步骤6：估计失配时间：使用步骤5中建立的函数关系估计所述系统的失配时间Δt1；步骤7：滤波失配时间：使用分数延时滤波器对步骤6中估计的时间相位误差进行Δt1延时滤波处理。