[发明专利]一种多测量通道机内自检电路设计

摘要

本发明属于信号检测领域，提供一种基于波段开关的多测量通道测量信号分配控制、机内分段“自检”和测量精度“自校验”电路设计方法。主要是利用波段开关的特点，设计了多测量通道逐段短路的“闭合自检回路”和带“校验电阻”的测量精度校验电路，在兼顾多测量通道信号分配控制的同时，实现了多测量通道机内快速“自检”和测试设备测量精度的“在线”校验，方便了用户对测试设备自身技术状态监测，也可为相关电路故障诊断提供检测手段，有利于故障隔离和故障准确定位。该电路设计还具有扩展性强，按照类似的电路原理可以实现串并联扩展，还适用于在各段测量通道上串联连接器(或适配器)的情况，并且能够检测到连接器(或适配器)的连通状态。

主权项

一种多测量通道机内自检电路设计，在两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj(j＝1，2，3，…，N为整数)之间，串联2个一刀多档(或称一刀多掷)波段开关Ka、Kb，其特征在于：(1)Ka‑Mo、Ka‑Mp分别和JC1、JC2相连，形成波段开关Ka前的测量通道(JC1至Ka‑Mo)和(JC2至Ka‑Mp)；(2)Kb‑Mo、Kb‑Mp分别和Ka‑o‑v、Ka‑p‑v相连，形成波段开关Ka、Kb间的测量通道(Ka‑o‑v至Kb‑Mo)和(Ka‑p‑v至Kb‑Mp)；(3)Kb‑o‑i、Kb‑p‑i分别和Aj、Bj相连，形成波段开关Kb后的测量通道(Kb‑o‑i至Aj)和(Kb‑p‑i至Bj)；(4)在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第i档位接通的情况下，两个前级测量点JC1、JC2和任意两个被检测点Aj、Bj连通在一起，形成测量通道(JC1‑Aij)和(JC2‑Bij)；(5)Ka‑o‑u和Ka‑p‑u相连，形成档位间短路连接，在波段开关Ka的第u档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka‑Mo)和(JC2至Ka‑Mp)这2段测量通道的连通状态(通路正常、断路、电路阻抗异常等，下同)；(6)Kb‑o‑f和Kb‑p‑f相连，形成档位间短路连接，在波段开关Ka的第v档位、波段开关Kb的第f档位接通的情况下，从JC1、JC2端可检查(JC1至Ka‑Mo)、(JC2至Ka‑Mp)、(Ka‑o‑v至Kb‑Mo)、(Ka‑p‑v至Kb‑Mp)各段测量通道的连通状态。