[发明专利]一种测量纳米材料的生产控制设备

摘要

本发明涉及一种测量设备领域，更具体的说是一种测量纳米材料的生产控制设备，可以在纳米材料的生产控制上测量其结构尺寸，采用丝杠导轨的形式可以保证测量精度，滑动底座位于安装挡块Ⅰ与安装挡块Ⅱ之间，传感器滑动座与滑动块相连接，中间固定块与滑动块相连接，转动座与滑动块相连接，转动座与丝杠相连接，丝杠与轴承Ⅰ相连接，丝杠与螺母相连接，丝杠与轴承Ⅱ相连接；端盖与安装挡块Ⅰ相连接，定位板与滑动底座相连接，挡板与滑动块相连接，挡套Ⅰ与滑动块相连接，螺钉与测量底座相连接，顶丝与挡套Ⅱ相连接，齿轮与丝杠相连接，轴承挡环与安装挡块Ⅱ相连接，轴承Ⅰ位于丝杠与安装挡块Ⅱ之间。

主权项

1.一种测量纳米材料的生产控制设备，包括滑动底座(1)、传感器滑动座(2)、中间固定块(3)、滑动块(4)、转动座(5)、丝杠(6)、安装挡块Ⅰ(7)、端盖(8)、定位板(9)、挡板(10)、挡套Ⅰ(11)、螺钉(12)、测量底座(13)、顶丝(14)、挡套Ⅱ(15)、安装挡块Ⅱ(16)、齿轮(17)、轴承挡环(18)、轴承Ⅰ(19)、垫圈(20)、固定螺钉(21)、定位螺钉(22)、螺母(23)和轴承Ⅱ(24)，其特征在于：滑动块(4)上设有三角底(4‑1)、通孔(4‑2)、滑槽(4‑3)、底板(4‑4)和固定口(4‑5)；转动座(5)上设有螺纹孔(5‑1)；丝杠(6)上设有螺纹段(6‑1)、丝杠段(6‑2)、轴承配合段(6‑3)、齿轮配合段(6‑4)和键槽(6‑5)；装挡块Ⅰ(7)上设有轴承孔(7‑1)；测量底座(13)上设有边台(13‑1)和U型槽(13‑2)；滑动底座(1)与安装挡块Ⅰ(7)相连接，滑动底座(1)与安装挡块Ⅱ(16)相连接，且滑动底座(1)位于安装挡块Ⅰ(7)与安装挡块Ⅱ(16)之间，传感器滑动座(2)与滑动块(4)相连接，中间固定块(3)与滑动块(4)相连接，转动座(5)与滑动块(4)相连接，转动座(5)与丝杠(6)相连接，丝杠(6)与轴承Ⅰ(19)相连接，丝杠(6)与螺母(23)相连接，丝杠(6)与轴承Ⅱ(24)相连接；端盖(8)与安装挡块Ⅰ(7)相连接，定位板(9)与滑动底座(1)相连接，挡板(10)与滑动块(4)相连接，挡套Ⅰ(11)与滑动块(4)相连接，螺钉(12)与测量底座(13)相连接，顶丝(14)与挡套Ⅱ(15)相连接，齿轮(17)与丝杠(6)相连接，轴承挡环(18)与安装挡块Ⅱ(16)相连接，轴承Ⅰ(19)位于丝杠(6)与安装挡块Ⅱ(16)之间，垫圈(20)位于丝杠(6)与固定螺钉(21)之间，固定螺钉(21)与丝杠(6)相连接，定位螺钉(22)使滑动块(4)与测量底座(13)相连接，螺母(23)与丝杠(6)相连接，轴承Ⅱ(24)位于丝杠(6)与安装挡块Ⅰ(7)之间。