[发明专利]制作嵌入式非挥发存储器的方法有效

专利信息
申请号: 201710340214.7 申请日: 2017-05-15
公开(公告)号: CN108735757B 公开(公告)日: 2021-04-13
发明(设计)人: 李皞明;林胜豪;郑子铭 申请(专利权)人: 联华电子股份有限公司
主分类号: H01L27/11563 分类号: H01L27/11563
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 陈小雯
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 发明公开一种制作嵌入式非挥发存储器的方法。先提供半导体基板,具有鳍状结构,凸出于绝缘层上。再形成电荷存储层,横跨鳍状结构。然后于半导体基板上沉积层间介电层。研磨层间介电层,直到显露出电荷存储层的上表面。接着蚀刻电荷存储层,再将电荷存储层切断成分离的电荷存储结构。在电荷存储结构上形成高介电常数介电层,再于高介电常数介电层形成字符线。
搜索关键词: 制作 嵌入式 挥发 存储器 方法
【主权项】:
1.一种制作嵌入式非挥发存储器的方法,包含有:提供一半导体基板,具有一鳍状结构,凸出于一绝缘层上;形成一电荷存储层,横跨该鳍状结构;在该半导体基板上沉积一层间介电层;研磨该层间介电层,直到显露出该电荷存储层的一上表面;凹陷蚀刻该电荷存储层;将该电荷存储层切断成分离的电荷存储结构;在该电荷存储结构上形成一高介电常数介电层;及在该高介电常数介电层形成一字符线。
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