[发明专利]一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法

摘要

本发明公开了一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，充分利用射线的穿透能力，针对外壳已封装的继电器，利用穿过继电器的射线由于强度不同在传感器上的感光程度也不同，由此产生内部不连续的图像的原理。方法首先建立的未封装前各类继电器型号对应的匹配图数据库，然后将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集并确定相似性测度和确定窗口大小以及窗口移动策略，进而计算继电器触点部分图像与数据库理想触点图像的互信息，最终准确测量出继电器触点间距。该检测方法具有实时性高，无需X光片等耗材，操作简便等特点。

主权项

一种测量继电器成品触点间距的X射线无损检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)将各类继电器型号数据录入系统，并获得各类继电器触点间距的经验数据，据此建立各类待检测的继电器触点形状、触点间距理想值的相应数据库；2)构造X射线检测系统，将待检测的已封装的继电器成品通过X射线检测系统进行数字化图像采集，得到去除噪声的边缘细节采集图像；3)根据步骤1)中数据库中先验触点的间距信息，设置滑动窗口大小为kdidea；其中didea为先验触点的间距，k为正整数；4)定义归一化互信息为其中F为待配准的边缘细节采集图像，R为对应的参考图像，H(F,R)为联合熵；H(F)和H(R)分别为待配准的边缘细节采集图像、参考图像的边缘熵；当联合熵达到最优值时，完成图像配准，获得在测继电器的触点间距信息。