[发明专利]晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统有效
| 申请号： | 201710373083.2 | 申请日： | 2017-05-24 |
| 公开（公告）号： | CN107421971B | 公开（公告）日： | 2020-05-12 |
| 发明（设计）人： | 池田由纪子;长尾圭悟;姬田章宏 | 申请（专利权）人： | 株式会社理学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 闫小龙;陈岚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及晶相识别方法、晶相识别装置、以及X射线衍射测定系统。使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置和峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别样品所包含的晶相。根据X射线衍射数据针对多个衍射图案检测峰位置和峰强度（步骤102），制作各衍射图案的周向的角度对强度的数据（步骤103）。然后，基于周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组（步骤105）。然后，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从数据库检索样品所包含的晶相候补（步骤106）。 | ||
| 搜索关键词： | 相识 方法 装置 以及 射线 衍射 测定 系统 | ||
【主权项】：
一种晶相识别方法，使用注册有关于多个晶相的X射线衍射图案的峰位置的数据和关于多个晶相的X射线衍射图案的峰强度比的数据的数据库，根据包含多个环状的衍射图案的数据的样品的X射线衍射数据来识别所述样品所包含的晶相，所述方法的特征在于，根据所述X射线衍射数据针对多个所述衍射图案检测峰位置和峰强度，根据所述X射线衍射数据针对多个所述衍射图案制作周向的角度对强度的数据，基于所制作的所述周向的角度对强度的数据来将各衍射图案分类为多个群组，基于分类为相同的群组的衍射图案的峰位置和峰强度比的组来从所述数据库检索所述样品所包含的晶相候补。
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