[发明专利]实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备有效

专利信息
申请号: 201710423078.8 申请日: 2017-06-07
公开(公告)号: CN107272821B 公开(公告)日: 2020-02-21
发明(设计)人: 朱晓飞;万峰;袁俊;陈光胜 申请(专利权)人: 上海东软载波微电子有限公司
主分类号: G06F1/14 分类号: G06F1/14
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 潘彦君;吴敏
地址: 200235 上海市徐汇区*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种实时时钟校准方法及装置、存储介质、电子设备,所述方法包括:获取当前温度值;从预设的频率偏差与温度值的映射关系中,获取与当前温度值对应的频率偏差;根据所述当前温度值对应的频率偏差,对实时时钟进行校准;其中:频率偏差与温度值的映射关系包括:样本第一二次曲线及样本第二二次曲线,采用如下步骤生成:获取在不同温度值下,样本中每一颗晶体的实测振荡频率与标定振荡频率的频率差值;计算样本中每一颗晶体对应的频率差值相对于第一温度值下对应晶体的频率差值的偏差;将温度值不大于第一温度值的所有偏差拟合出样本第一二次曲线,将温度值不小于第一温度值对应的所有偏差拟合出样本第二二次曲线。上述方案能够提高RTC计时精度。
搜索关键词: 实时 时钟 校准 方法 装置 存储 介质 电子设备
【主权项】:
一种实时时钟校准方法,其特征在于,包括:获取当前温度值;从预设的频率偏差与温度值的映射关系中,获取与当前温度值对应的频率偏差;根据所述当前温度值对应的频率偏差,对所述实时时钟进行校准;其中:所述预设的频率偏差与温度值的映射关系包括:样本第一二次曲线以及样本第二二次曲线,所述样本第一二次曲线和所述样本第二二次曲线采用如下步骤生成:获取在不同温度值下,样本中每一颗晶体的实测振荡频率与标定振荡频率的频率差值;计算所述样本中每一颗晶体对应的频率差值相对于第一温度值下对应晶体的频率差值的偏差;将温度值不大于所述第一温度值的所有偏差拟合出所述样本第一二次曲线,将温度值不小于所述第一温度值对应的所有偏差拟合出所述样本第二二次曲线。
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