[发明专利]一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关在审
申请号: | 201710423600.2 | 申请日: | 2017-06-07 |
公开(公告)号: | CN107241088A | 公开(公告)日: | 2017-10-10 |
发明(设计)人: | 胡蓉彬;王永禄;张正平;王健安;陈光炳;付东兵;王育新;蒋和全;胡刚毅 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第二十四研究所 |
主分类号: | H03K17/687 | 分类号: | H03K17/687;H03M1/12 |
代理公司: | 北京同恒源知识产权代理有限公司11275 | 代理人: | 赵荣之 |
地址: | 400060 *** | 国省代码: | 重庆;85 |
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摘要: | 本发明涉及一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关,包括NMOS晶体管N1~N7、PMOS晶体管P1~P4、电容C1、电容C2和公共节点。本发明提出一自举开关电路,解决了传统自举开关存在衬偏效应,可靠性差,线型性能不好,输入信号范围窄等问题。本发明的自举开关电路可在深亚微米CMOS工艺条件下实现,输入信号范围可在地和电源之间变化,甚至超出电源电压范围。本发明消除了衬偏效应,具有极好的线型性。特殊的设计使得本发明具有较高的可靠性。本发明可用于集成模数转换器中的采样保持电路。 | ||
搜索关键词: | 一种 消除 效应 微米 cmos 开关 | ||
【主权项】:
一种消除衬偏效应的深亚微米CMOS自举开关,其特征在于:包括NMOS晶体管N1、NMOS晶体管N3~N7、PMOS晶体管P2~P4、电容C2和公共节点;所述NMOS晶体管N1的源极作为自举开关的输入端,漏极作为自举开关的输出端,输出端接对地电容C1;所述NMOS晶体管N1的栅极分别与PMOS晶体管P2的栅极、NMOS晶体管N3的漏极、PMOS晶体管P4的漏极、NMOS晶体管N6的栅极、NMOS晶体管N7的栅极连接,NMOS晶体管N1的源极与NMOS晶体管N7的漏极连接;NMOS晶体管N7的源极与NMOS晶体管N6的源极连接,且经公共节点分别与NMOS晶体管N4的漏极、NMOS晶体管N5的源极、电容C2的下极板、NMOS晶体管N1的衬底连接;所述NMOS晶体管N6的漏极分别与PMOS晶体管P4的栅极、NMOS晶体管N5的漏极、PMOS晶体管P3的漏极连接;所述PMOS晶体管P2的漏极分别与电容C2的上极板、PMOS晶体管P4的源极连接;PMOS晶体管P2的衬底与漏极连接,源极接电源VCC;PMOS晶体管P3的源极接电源VCC;PMOS晶体管P4的衬底与源极连接;所述NMOS晶体管N4的源极、NMOS晶体管N3的源极分别接地,NMOS晶体管N4的栅极与NMOS晶体管N3的栅极连接并同时接时钟信号CLKN;PMOS晶体管P3的栅极与PMOS晶体管N5的栅极连接并同时接时钟信号CLK,所述时钟信号CLK与时钟信号CLKN互为相反的时钟信号。
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