[发明专利]低温多晶硅阵列基板及其制作方法有效
申请号: | 201710505494.2 | 申请日: | 2017-06-28 |
公开(公告)号: | CN107275344B | 公开(公告)日: | 2019-12-31 |
发明(设计)人: | 刘凤举 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12 |
代理公司: | 44304 深圳市铭粤知识产权代理有限公司 | 代理人: | 孙伟峰 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种低温多晶硅阵列基板,包括低温多晶硅薄膜晶体管、低温多晶硅薄膜晶体管上方的平坦层、背镀氧化铟锡层、以及所述背镀氧化铟锡层表面的绝缘层;所述背镀氧化铟锡层上形成有刻度标记,所述刻度标记为所述背镀氧化铟锡层上开设的镂空图案,所述绝缘层贴合在所述背镀氧化铟锡层表面并完全覆盖所述刻度标记,或者所述绝缘层镂空设置,露出所述刻度标记的中间区域。本发明的低温多晶硅阵列基板制作方法简单,通过将背镀氧化铟锡层上的刻度标记与其上的绝缘层经过特别设计后,可以有效地改善离子体氮化硅脱落现象,大幅提高基板产品的良率。 | ||
搜索关键词: | 低温 多晶 阵列 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种低温多晶硅阵列基板,其特征在于,包括低温多晶硅薄膜晶体管(10)、低温多晶硅薄膜晶体管(10)上方的平坦层(20)、背镀氧化铟锡层(30)以及所述背镀氧化铟锡层(30)表面的绝缘层(40);所述背镀氧化铟锡层(30)上形成有刻度标记,所述刻度标记为所述背镀氧化铟锡层(30)上开设的镂空图案,所述绝缘层(40)贴合在所述背镀氧化铟锡层(30)表面并完全覆盖所述刻度标记,所述绝缘层(40)的材料为离子体氮化硅。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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