[发明专利]辐射检查系统和辐射检查方法在审

专利信息
申请号: 201710515891.8 申请日: 2017-06-29
公开(公告)号: CN107228868A 公开(公告)日: 2017-10-03
发明(设计)人: 冯志涛;胡晓伟;曹艳锋;王少锋;王彦华;闫雄;王春雷 申请(专利权)人: 北京君和信达科技有限公司
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04
代理公司: 北京展翼知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11452 代理人: 屠长存
地址: 100088 北京市西*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。该辐射检查系统包括辐射成像装置、第一检测器、第二检测器和控制单元,控制单元可以基于第一检测器检测到的第一时刻、第二检测器检测到的第二时刻以及两个检测器的预设位置之间的距离,确定所述被检测物体在所述第一预设位置和所述第二预设位置之间行进的平均速度v,并在所述第二时刻t2之后经过第一时间间隔T1=K/v‑T0,发出用于控制所述辐射成像装置发射所述辐射束的指令,其中,K为基于所述检测规避部分的长度和所述第二预设位置确定的参数,T0为基于辐射检查系统的系统响应延迟预先设定的延迟补偿。由此,通过设定延迟补偿实现对被检测物体的辐射扫描的精确控制。
搜索关键词: 辐射 检查 系统 方法
【主权项】:
一种辐射检查系统,用于对沿着检测通道限定的行进方向行进的被检测物体进行辐射检查,其中,所述被检测物体包括需检测部分和检测规避部分,该辐射检查系统包括:辐射成像装置,设置在所述检测通道的辐射检查位置处,用于发射辐射束以对所述被检测物体进行扫描并生成辐射图像;第一检测器,设置在所述辐射检查位置上游预定距离处的第一预设位置,用于检测所述被检测物体的检测规避部分前端到达所述第一预设位置的第一时刻t1,并发出包括所述第一时刻t1的第一检测器信号;第二检测器,设置在所述第一预设位置下游预定距离处的第二预设位置,用于检测所述被检测物体的检测规避部分前端到达所述第二预设位置的第二时刻t2,并发出包括所述第二时刻t2的第二检测器信号;控制单元,用于接收所述第一检测器信号和所述第二检测器信号,基于所述第一时刻t1、所述第二时刻t2以及所述第一预设位置和所述第二预设位置之间的距离,确定所述被检测物体在所述第一预设位置和所述第二预设位置之间行进的平均速度v,并在所述第二时刻t2之后经过第一时间间隔T1,发出用于控制所述辐射成像装置发射所述辐射束的指令,其中,T1=K/v‑T0,K为基于所述检测规避部分的长度和所述第二预设位置确定的参数,T0为基于辐射检查系统的系统响应延迟预先设定的延迟补偿。
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