[发明专利]基于XRD优选硅质物料的方法及其应用有效
| 申请号： | 201710518773.2 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN107389709B | 公开（公告）日： | 2019-06-25 |
| 发明（设计）人： | 任雪红;张文生;叶家元;董刚;张洪滔;汪智勇 | 申请（专利权）人： | 中国建筑材料科学研究总院 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;C04B7/02 |
| 代理公司： | 北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 | 代理人： | 王伟锋;刘铁生 |
| 地址： | 100024*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种基于XRD优选硅质物料的方法及其应用。测定方法包括，研磨硅质物料；采用XRD衍射仪对所述的物料进行测试；计算其中石英101晶面衍射峰的绝对强度与总峰强的比值R；将XRD数据扣除CuKα2衍射，并去背底处理后绘图，得到石英101面衍射峰的峰位θX和半高宽Δθ，同时将XRD数据进行归一化处理，计算石英101面XRD衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)。本发明提供的测定方法，可用于对硅质物料的品质进行判定，有利于对物料进行合理选择。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 xrd 优选 物料 方法 及其 应用 | ||
【主权项】：
1.一种基于XRD优选硅质物料的方法，其特征在于：包括，研磨所述的硅质物料，得到第一粉料；采用XRD仪器对所述的第一粉料进行测试，得到所述的第一粉料的XRD数据，所述的XRD数据包括衍射峰位和峰强；计算石英101晶面衍射峰的绝对强度与总强度的比值R；将所述的XRD数据扣除CuKα2衍射，去背底处理后绘图，得到所述的石英101晶面XRD衍射峰的峰位θX和半高宽Δθ；将扣除CuKα2衍射和去背底后的XRD数据进行归一化处理，计算石英的101晶面衍射峰强度积分面积A；计算所述的硅质物料的惰性系数Ds，Ds＝R/(A*Δθ*COSθx)，根据所述的惰性系数Ds，选择所述的硅质物料。
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