[发明专利]一种用于二极管芯片制程中N+扩散的方法在审
申请号: | 201710519884.5 | 申请日: | 2017-06-30 |
公开(公告)号: | CN107464753A | 公开(公告)日: | 2017-12-12 |
发明(设计)人: | 潘建英;沈怡东;王成森;沈广宇 | 申请(专利权)人: | 捷捷半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L21/22 |
代理公司: | 南京正联知识产权代理有限公司32243 | 代理人: | 卢海洋 |
地址: | 226200 江苏省南通市苏通科技产*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明涉及一种用于二极管芯片制程中N+扩散的方法,包扩原料N型硅单晶片(1),预沉积后高浓度N+层(2),推结后高浓度N+扩散层(3),粘片工装(4),由N型硅单晶片粘片后形成的硅片棒(5),一次成型N型单晶片(6),二次成型N型硅单晶片(7),二次成型N型硅单晶片(7)可作为半成品直接用于二极管芯片的接下来的其它制程,本发明的优点是免去了二极管芯片制程中去除单面无效N+层的全部过程,同时获得设有高浓度N+扩散层(3)的二次成型N型硅单晶片(7),大幅提升N型硅单晶片(1)在二极管芯片制程中的利用率,并且获得高浓度N+层,保证N型硅单晶片(7)的串联电阻,既保持了二极管衬底层质量,又大幅降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 二极管 芯片 制程中 扩散 方法 | ||
【主权项】:
一种用于二极管芯片制程中N+扩散的方法,其制作方法包括以下步骤:a)选取N型单晶片(1)做原材料,片厚为460‑700μm ,电阻率为50‑95Ω·cm;b)磷预沉积:通过SPM清洗后,将N型单晶片(1)装片并推进预沉积扩散炉,进行预沉积,温度为1180±10℃,时间为2±0.5小时,通过磷预扩在N型单晶片(1)的正、背面扩散入一层高浓度N+层(2);c)推结:将N型硅单晶片(1)装片并推进推结扩散炉,进行推结,温度为1275±10℃,时间为19±2小时,通过推结将已扩散入N型硅单晶片(1)的正、背面的N+杂质通过高温进一步扩散, N+扩散层(3)单面扩散结深为120‑250μm,同时,保留原始单晶层其厚度为150‑240μm;d)粘片成棒:将N型硅单晶片(1)表面涂上适量的液态源并逐片叠放装入如图4所示的工装中,粘片工装(4)中可装入200‑400片N型硅单晶片(1),将硅片压实,待蜡固化后粘接成硅片棒(5),待多线切割;e)多线切割:将硅片棒粘接在玻璃板上,依据硅片片厚计算并设定好多线线距,调整好砂浆黏度等,开启硅片多线切割设备将硅片工艺将原料N型硅单晶片(1)沿截面长轴中心线位置一切为二,同时获得2片直径相同并一侧设有推结后高浓度N+扩散层(3)的一次成型N型硅单晶片(6);f) 磨抛:将一次成型N型硅单晶片(6)的原始N型面进行磨片、抛光或者酸腐蚀处理,去除量为10‑30微米,形成二次成型N型硅单晶片(7),二次成型N型硅单晶片(7)可作为半成品直接用于二极管芯片的接下来的其它制程。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于捷捷半导体有限公司,未经捷捷半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710519884.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:月饼包装盒(滩外楼)
- 下一篇:雾化器(JLN‑2305BS‑B)
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造