[发明专利]存储器件及其操作方法有效
申请号: | 201710543973.3 | 申请日: | 2017-07-05 |
公开(公告)号: | CN107342107B | 公开(公告)日: | 2020-07-17 |
发明(设计)人: | 杨光军;高超;胡剑 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G11C16/10 | 分类号: | G11C16/10;G11C16/12;G11C16/34 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供了一种存储器件及其操作方法,所述存储器件包括若干个存储单元,其中,每个存储单元包括多行多列闪存结构,所述存储器件还包括高压译码器、低压译码器和隔离模块,所述隔离模块包括多个隔离单元,其中:多个所述隔离单元连接在所述高压译码器和所述低压译码器之间,每个所述闪存结构均连接于高压译码器与一个隔离单元的连接处,两个闪存结构共用同一控制栅,所述高压译码器为与之连接的所述闪存结构提供操作电压;对某个所述闪存结构进行编程时,与该闪存结构连接的隔离单元关断,与该闪存结构共用同一控制栅的闪存结构所连接的隔离单元关断,剩余隔离单元导通。 | ||
搜索关键词: | 存储 器件 及其 操作方法 | ||
【主权项】:
一种存储器件,所述存储器件包括若干个存储单元,其中,每个存储单元包括多行多列闪存结构,其特征在于,所述存储器件还包括高压译码器、低压译码器和隔离模块,所述隔离模块包括多个隔离单元,其中:多个所述隔离单元连接在所述高压译码器和所述低压译码器之间,每个所述闪存结构均连接于高压译码器与一个隔离单元的连接处,两个闪存结构共用同一控制栅,所述高压译码器为与之连接的所述闪存结构提供操作电压;对某个所述闪存结构进行编程时,与该闪存结构连接的隔离单元关断,与该闪存结构共用同一控制栅的闪存结构所连接的隔离单元关断,剩余隔离单元导通。
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