[发明专利]太阳能电池副栅遮光率修正系数与副栅遮光率的测定方法及电池片印刷质量的评价方法

摘要

本发明提供了太阳能电池副栅遮光率修正系数与副栅遮光率的测定方法及电池片印刷质量的评价方法，涉及太阳能电池生产制造技术领域，太阳能电池副栅遮光率修正系数的测定方法，包括以下步骤：步骤a)：选取不少于3组电池片，不同组别电池片之间的副栅条数不同；分别计算每组电池片的平均短路电流密度J_SC；步骤b)：计算每组电池片的主栅几何遮光率f_busbar和副栅几何遮光率f_finger；步骤c)：以f_finger为横坐标，以J_SC为纵坐标绘制离散图并做线性拟合得到直线，所述直线的斜率y＝‑J_L·K，所述直线的截距D＝J_L·(1‑f_busbar)，通过离散图和计算得出副栅遮光率的修正系数K。

主权项

1.一种太阳能电池副栅遮光率修正系数的测定方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤a)：选取不少于3组电池片，不同组别电池片之间的副栅的根数不同；分别计算每组电池片的平均短路电流密度J_SC、主栅几何遮光率f_busbar平均值和副栅几何遮光率f_finger平均值；步骤b)：以f_finger为横坐标，以J_SC为纵坐标绘制离散图并做线性拟合得到直线，所得直线对应式(1)：Jsc＝J_L·(1‑f_busbar‑K·f_finger)，  式(1)；其中，J_L为非遮光区的广生电流密度，K为副栅遮光率的修正系数；根据离散图得到直线的斜率y以及截距D，根据式(2)和式(3)，可计算得出副栅遮光率的修正系数K：所述直线的斜率y＝‑J_L·K，  式(2)；所述直线的截距D＝J_L·(1‑f_busbar)，  式(3)。