[发明专利]一种钙华介电常数测试样品的制备方法有效
| 申请号： | 201710563473.6 | 申请日： | 2017-07-12 |
| 公开（公告）号： | CN107340164B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 代群威;李刚;彭启轩;党政;赵玉连;王岩 | 申请（专利权）人： | 西南科技大学 |
| 主分类号： | G01N1/28 | 分类号： | G01N1/28 |
| 代理公司： | 11569 北京高沃律师事务所 | 代理人： | 刘奇 |
| 地址： | 621000 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明本发明提供了一种钙华介电常数测试样品的制备方法，包括以下步骤：首先提供钙华颗粒，将钙华颗粒与水混合，压制成型，得到致密钙华；其中，水的用量为钙华颗粒质量的10～16％；随后将得到的致密钙华进行表面镀金处理，得到钙华介电常数测试样品。本发明采用将钙华颗粒进行压制的方式，实现了将无规则形状的钙华转化为规则形状的样品进行测试，避免直接对无规则钙华进行测试出现“掉粉”，进而降低测试误差的问题；本发明通过将钙华颗粒与水混合后再压制成型，并严格控制混合用水的用量，确保压制成型后的钙华的塑性，避免钙华颗粒直接压制出现大面积的“掉粉”，减少测试误差。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 介电常数 测试 样品 制备 方法 | ||
【主权项】：
1.一种钙华介电常数测试样品的制备方法，包括以下步骤：/n(1)提供钙华颗粒；/n(2)将所述钙华颗粒与水混合，压制成型，得到致密钙华；所述水的用量为钙华颗粒质量的10～16％；/n(3)将所述步骤(2)得到的致密钙华进行表面镀金处理，得到钙华介电常数测试样品。/n
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