[发明专利]低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质

摘要

本发明提供了一种低功耗加权伪随机LOC延迟测试方法、系统、设备及存储介质；所述测试方法包括：建立扫描森林；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中；根据可测性增益函数分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值；应用所述扫描森林进行伪随机测试，并输出伪随机测试向量；以及根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果。采用本发明技术故障覆盖率高，可获得比传统的方法高出多达20％的覆盖率；硬件开销低，更不会带来额外的延迟开销、结构简单、便于工业界广泛使用，易于嵌入现有的EDA工具中，能够支持伪随机测试和确定自测试；与确定自测试结合可有效降低测试数据容量。

主权项

1.一种低功耗加权伪随机测试方法，其特征在于，所述测试方法包括：建立扫描森林，其中，所述扫描森林中的相移器上连接有多个多路输出选择器，且每个所述多路输出选择器均用于驱动多个扫描树，每个扫描树中均包括多个扫描链；将由同一个多路输出选择器控制的全部扫描链均设置在相同的扫描链子集中，其中，相同的扫描链子集中的全部扫描链均由相同的时钟信号驱动；根据可测性增益函数，分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值；应用所述扫描森林进行伪随机测试，并输出伪随机测试向量；其中，在伪随机测试中，每个测试周期中的一个时钟信号激活一个所述扫描链子集；以及，根据所述伪随机测试向量计算得到伪随机测试结果；所述根据可测性增益函数，分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值，包括：根据如公式二所示的可测性增益函数，分别对每个所述扫描链子集的测试使能信号进行权重赋值：其中，节点l上升转换故障l/r的可检测度det(f)¹根据公式二进行估算：在公式二中，f表示节点l上升或下降的转换故障；F是随机难测故障集，且F被定义为检测概率小于或等于最强故障10倍的故障集；其中，所述节点l上升转换故障l/r的可检测度det(l/r)根据公式三进行估算：det(l/r)＝C₀(l)·C₁(l')·O(l')    公式三节点l下降转换故障l/f的可检测度det(l/f)根据公式四进行估算：det(l/f)＝C₁(l)·C₀(l')·O(l')    公式四在公式三和公式四中，C₁(l)、C₀(l)和O(l)分别为节点l的1可控度、0可控度和可观察度；其中，某一节点l在两帧电路模型中的第一帧的位置为l、在两帧电路模型中的第二帧中相应位置为l'，节点l上升和下降转换的可检测性定位为指定输入数量来检测双帧电路中的转换故障。